岐阜県産業技術総合センター

JKA補助事業整備備品

ガスクロマトグラフ質量分析装置
開放利用 7,750円 / 1時間
導入年度 令和6年度
メーカー 株式会社島津製作所
型番 GCMS-QP2020 NX
概要 300℃程度までの加熱で気化する成分の定性・定量分析を行う装置です。また、熱分解装置の併用により、ポリマーの推定、ポリマー添加物の分析などが可能です。
分析手法：液打ち、熱分解分析、熱脱着分析　等
仕様 装置本体
　カラムオーブン温度　：最高450℃
　質量分析部　　　　　：プリロッド付四重極
　イオン化方式　　　　：電子イオン化法（EI）
　質量測定範囲　　　　：m/z 1.5～1,090
　スキャン速度　　　　：最大20,000 u/sec
熱分解装置（EGA/PY-3030D, Frontier Lab.）
　加熱炉温度範囲　　　：室温+10～1,050℃
　加熱炉温度安定性　　：±0.1℃以内
　加熱炉昇温速度　　　：最大600℃/min
補助金 JKA備品
外観
熱分解ガスクロマトグラフ質量分析計
開放利用 7,750円 / 1時間
導入年度 令和6年度
メーカー 株式会社島津製作所
型番 GCMS-QP2020 NX
概要 300℃程度までの加熱で気化する成分の定性・定量分析を行う装置です。また、熱分解装置の併用により、ポリマーの推定、ポリマー添加物の分析などが可能です。
分析手法：液打ち、熱分解分析、熱脱着分析　等
仕様 装置本体
　カラムオーブン温度　：最高450℃
　質量分析部　　　　　：プリロッド付四重極
　イオン化方式　　　　：電子イオン化法（EI）
　質量測定範囲　　　　：m/z 1.5～1,090
　スキャン速度　　　　：最大20,000 u/sec
熱分解装置（EGA/PY-3030D, Frontier Lab.）
　加熱炉温度範囲　　　：室温+10～1,050℃
　加熱炉温度安定性　　：±0.1℃以内
　加熱炉昇温速度　　　：最大600℃/min
補助金 JKA備品
外観
イオンクロマトグラフ
開放利用 対象外
導入年度 令和6年度
メーカー メトロームジャパン株式会社
型番 930 Combustion IC
概要 　自動試料燃焼装置を有し、燃焼ガスを分析可能なイオンクロマトグラフ装置です。燃焼法イオンクロマトグラフシステムは、固体や粘性のあるサンプルを燃焼させてガス化し、吸収液に吸収させることによってイオンクロマトグラフで分析することができます。
　特に、固体試料中のハロゲンや硫黄のイオン分析に適していますが、水溶液中の陽イオンおよび陰イオンの分析も可能です。
仕様 陰イオン：F-,Cl-,NO2-,Br-,NO3-,PO43-,SO42-
陽イオン：Li+，Na+，NH4+，K+，Ca2+，Mg2+
カラム、サプレッサ、溶離液経路に有機溶剤耐性あり
補助金 JKA備品
外観
共焦点顕微鏡
開放利用 1,820円 / 1時間
導入年度 令和5年度
メーカー レーザーテック株式会社
型番 OPTICS HYBRID L3/405nm レーザー＋RGB（Auto）
概要 表面粗さや断面形状の評価など、様々な部材の表面観察・形状測定に使用する測定機です。
仕様 光源： 白色光源、レーザー光源
測定視野：白色光源、対物10倍レンズ使用時　1,500μmＸ1,500μm
可動範囲：電動ステージ 160mmＸ160mm
作動距離：対物レンズ 5倍：23.5mm、10倍：17.5mm、
50倍 , 100倍：2.0mm、150倍：1.5mm
線粗さ測定（JIS B0601に準拠）、面粗さ測定（JIS B0681に準拠）
補助金 JKA備品
外観
真円度測定機
開放利用 対象外
導入年度 令和5年度
メーカー 株式会社東京精密
概要 円輪郭形状の真円からの「ゆがみ」の大きさを評価するなど、機械部品の形状精度の測定に使用する測定機です。
仕様 最大測定径　　　　：外径300mm
回転テーブル外径　：Φ235mm
センターリング範囲：±5mm
測定レンジ　　　　：±1,000μm、および±200μm
評価方法　　　　　：MZC（最小領域）、LSC（最小二乗）、等
表面粗さ測定　　　：円周方向（JIS B0601（2013）等に準拠）
補助金 JKA備品
外観
近接照射イミュニティ試験機(一般機器規格)【利用不可】
開放利用 2,710円 / 1時間
導入年度 令和4年度
メーカー 株式会社テクノサイエンスジャパン
概要 近接照射イミュニティ試験規格IEC61000-4-39に準拠した放射RF電磁界試験装置です。
仕様 380～4000MHz　300V/m
4000～6000MHz　100V/m
パルス変調
電波暗室に設置
補助金 JKA備品
外観
近接照射イミュニティ試験機(車載機器規格)【利用不可】
開放利用 5,590円 / 1時間
導入年度 令和4年度
メーカー 株式会社テクノサイエンスジャパン
概要 ISO11452-9規格に準拠した近接照射イミュニティ試験装置です。
仕様 380～6000MHz　試験レベル：電力規定であり、周波数毎に決定されます。
AM、パルス変調
電波暗室に設置
補助金 JKA備品
外観
磁界イミュニティ試験機
開放利用 2,650円 / 1時間
導入年度 令和4年度
メーカー 株式会社テクノサイエンスジャパン
概要 ISO11452-8、IEC61000-4-39規格に準拠した磁界イミュニティ試験装置です。
仕様 【ISO11452-8 規格】
　DC　3000A/m、15Hz～150kHz：1000A/m
【IEC61000-4-39 規格】
　9～150kHz　30A/m、150kHz～26MHz：3A/m
【IEC60601-1-2 規格】
　30kHz：8A/m、134.2kHz：65A/m、13.56Mhz：7.5A/m
AM、パルス変調
シールドルームに設置
補助金 JKA備品
外観
レーダーパルス試験機【利用不可】
開放利用 6,040円 / 1時間
導入年度 令和4年度
メーカー 株式会社テクノサイエンスジャパン
概要 ISO11452-2規格に準拠したレーダーパルス試験装置です。
仕様 1.2～1.4GHz　600V/m
2.7～3.1GHz　600V/m
パルス変調
電波暗室に設置
補助金 JKA備品
外観
三次元粗さ解析電子顕微鏡
開放利用 4,430円 / 1時間
導入年度 令和3年度
メーカー 株式会社エリオニクス
型番 ERA-600G
概要 従来の走査型電子顕微鏡と異なり、二次電子検出器が4本あるため、高さ方向の分解能が1nmであり、微細な凹凸がある表面の鳥瞰図も得ることが可能です。JIS B0681-6の角度分解SEM 法によってRa やRz などの表面粗さパラメータも算出可能です。
仕様 電子銃：タングステン、加速電圧：0.3～35kV
横方向分解能：3.5nm（35kV）
倍率：×10～×300,000倍
試料寸法：φ125×H10mm（最大径）φ50×H30mm（最大厚）
二次電子検出器：4本、高さ方向分解能：1nm
EDSによる元素分析可能
補助金 JKA備品
外観
フタル酸エステル類等スクリーニング装置
開放利用 5,370円 / 1時間
導入年度 令和2年度
メーカー 株式会社島津製作所
型番 GCMS-QP2020NX + Py-Screener
概要 RoHS2に規定されている、フタル酸エステル類および臭素系難燃剤について、IEC62321 Part8の分析規格に準拠したスクリーニング測定が可能な装置です。
仕様 質量測定範囲：m/z[2～1090]
マルチショットパイロライザー装備
フタル酸エステル類・臭素系難燃剤分析用ソフトウェア装備
補助金 JKA備品
外観
放射イミュニティ試験機(車載機器試験)【利用不可】
開放利用 2,070円 / 1時間
導入年度 令和元年度
メーカー 株式会社テクノサイエンスジャパン
概要 ISO11452-2:2019規格に準拠した放射イミュニティ試験装置です。
仕様 200MHz～3GHz　200V/m @1m
AM、FM、パルス変調
電波暗室に設置
補助金 JKA備品
外観
放射エミッション試験機(一般機器規格)
開放利用 1,010円 / 1時間
導入年度 平成30年度
メーカー 株式会社テクノサイエンスジャパン
概要 CISPR11、CISPR14-1、CISPR32、VCCI等の規格に準拠した放射エミッション試験装置です。
仕様 周波数範囲：9kHz～18GHz
　アクティブループアンテナ　9kHz～30MHz
　バイログアンテナ　30MHz～1GHz(バイコニ、ログペリ)
　ホーンアンテナ　1GHz～18GHz
電波暗室に設置
補助金 JKA備品
外観
伝導エミッション試験機(一般機器規格)
開放利用 720円 / 1時間
導入年度 平成30年度
メーカー 株式会社テクノサイエンスジャパン
概要 CISPR11、CISPR14-1、CISPR32、VCCI等の規格に準拠した伝導エミッション試験装置です(妨害波電力試験装置も含みます)。
仕様 周波数範囲：150kHz～30MHz
　　LISN：単相 16A, 三相 32A
シールドルームに設置
補助金 JKA備品
外観
放射イミュニティ試験機(一般機器規格)
開放利用 1,050円 / 1時間
導入年度 平成30年度
メーカー 株式会社テクノサイエンスジャパン
概要 IEC61000-4-3 Ed.3.2規格に準拠した放射イミュニティ試験装置です。
仕様 80MHz～1GHz　30V/m @3m
1GHz～3GHz　20V/m @3m
3GHz～6GHz　10V/m @3m
AM、FM、パルス変調
電波暗室に設置
補助金 JKA備品
外観
伝導イミュニティ試験機(一般機器規格)
開放利用 660円 / 1時間
導入年度 平成30年度
メーカー 株式会社テクノサイエンスジャパン
概要 IEC61000-4-6 Ed.4.0規格に準拠した伝導イミュニティ試験装置です。
仕様 150kHz～230MHz 10V
　　CDN：M1~M3 16A(単相) M4, M5 32A(三相)
　　EMクランプ、電流クランプ
シールドルームに設置
補助金 JKA備品
外観
耐ノイズ評価試験機
開放利用 990円 / 1時間
導入年度 平成30年度
メーカー 株式会社テクノサイエンスジャパン
概要 静電気試験(IEC61000-4-2 Ed.2.0)、ファーストトランジェント／バースト試験(IEC61000-4-4 Ed.3.0)、サージ試験(IEC61000-4-5 Ed.3.0)、電源周波数磁界試験(IEC61000-4-8 Ed.2.0)、電圧ディップ／瞬間停電試験(IEC61000-4-11 Ed.2.0)の試験装置です。
仕様 静電気試験：最大試験電圧30kV
EFT/B試験：最大試験電圧5.5kV 単相・DC 16A、三相 32A
サージ試験：最大試験電圧5kV 単相・DC 16A、三相　32A
電源周波数磁界試験：最大試験磁界強度30A/m
電圧ディップ／瞬停試験：単相 16A、0%, 40%, 70%, 80%, 100%切替式
シールドルームに設置
補助金 JKA備品
外観
万能材料試験機
開放利用 対象外
導入年度 平成29年度
メーカー 株式会社東京衡機試験機
型番 RUH-500SIV
概要 　万能材料試験機は、板や棒から切り出した試験片、あるいは製品に対し、引張、圧縮、曲げ試験を実施し、機械特性を測定する装置で、次のような機能を備えています。試験片に対する引張試験では対象の引張強度(試験体が破壊する力)、破断伸び(材料の粘り)、耐力(弾性変化の限界、これ以上の力が作用すると永久変形する)が得られます。圧縮試験では圧縮強度、曲げ試験では曲げ強度などが得られます。製品に対してもそれぞれの強度が得られます。
仕様 駆動方式：電気油圧サーボ式
等級：JIS1級 (JIS K 7721)
最大試験力：500kN
チャック：丸棒、平板、異形棒鋼鉄筋に対応、チャック間隔 0～50mm
伸び計：標点間距離 50mm、測定範囲 2mm
三点曲げ：最大スパン 650mm、支持ローラ Φ50×160mm、ポンチ R3～51mm(13種)
補助金 JKA備品
外観
ICP発光分光分析装置
開放利用 対象外
導入年度 平成27年度
メーカー SPECTRO Analytical Instruments
型番 SPECTRO ARCOS FHM22
概要 　ICP(高周波誘導結合プラズマ：Inductively Coupled Plasma)発光分光分析法は、材料(金属・セラミックス・プラスチックスなど)中の構成元素(主に金属元素)についての含有量を精度良く分析できる一つの手法(定量分析)として広く利用されています。高周波で誘起されたアルゴンガスのプラズマに分析試料溶液を細かい霧状にして導入し、励起された原子が基底状態に戻る際の発光スペクトルを測定します。検出された発光スペクトルの波長及び強度から元素の種類及び量を分析します。当所では、金属材料(鉄鋼、非鉄金属)の定量分析に本装置を使用しています。
仕様 タイプ MV130
測光方式 SOP(側面方向)、EOP(軸方向)
タイプ 多元素同時(マルチ)
波長範囲 130～770nm
補助金 JKA備品
外観
汎用フライス盤
開放利用 対象外
導入年度 平成24年度
メーカー 株式会社イワシタ
型番 NR2
概要 汎用フライス盤とは、金属等の素材を回転する工具により切削加工するための工作機械です。本装置は、手動操作が基本のため汎用性が高く、依頼試験用試料の作製、研究用治具の作製、NC加工前の粗加工など幅広い用途に使用できます。また、標準機能としてNC装置も搭載されており、手動では困難な複雑形状までの加工が可能であることから、粗加工から複雑形状加工までをこの1台で対応する効率的な工作機械です。
仕様 テーブル寸法(幅×奥行) ： 1100×280mm
テーブル最大積載重量 ： 300kg
テーブル移動量
　左右移動量：700mm / 前後移動量：300mm
　上下移動量：400mm / クイル移動量：140mm
　主軸回転速度：L40～535 H536～4000rpm
送り速度
　切削送り速度(左右)：0～3000mm/min
　切削送り速度(前後)：0～3000mm/min
　切削送り速度(上下)：0～3000mm/min
　早送り速度(左右)：5000mm/min
　早送り速度(前後)：5000mm/min
　早送り速度(上下)：3000mm/min
　クイル送り速度：0.035、0.07、0.14mm/rev
制御装置：FUNUC 20i-F
補助金 JKA備品
外観
振動研磨機
開放利用 対象外
導入年度 平成24年度
メーカー ビューラー
型番 バイブロメット2
概要 　通常の回転式の研磨機と異なり、水平方向の微小な振動によって平滑で歪みのない研磨面を作製することができ、電子線後方散乱回折法(EBSD)用の試料およびナノインデンター用試料作りに適します。また、縁ダレの発生も抑えられるため、最表面および界面観察用試料作りにも適します。
仕様 研磨盤サイズ 　： 12インチ
振動強度　　　　 ： 可変式
研磨サンプル形状 ： 1インチ・2インチ径埋込サンプル、異形の非埋込材料も可能
補助金 JKA備品
外観
冷熱衝撃試験機
開放利用 1,640円 / 1時間
導入年度 平成23年度
メーカー 日立アプライアンス株式会社
型番 ES-76LMS
概要 　冷熱衝撃試験機は製品の周囲温度を短時間に高温と低温で繰り返し変化させて熱衝撃を加える装置です。本装置を使用することで急激な温度変化伴う膨張や収縮による製品の不具合(割れ、剥離等)を検証して信頼性を評価します。
本機器は指定時間による制御以外に製品表面温度が指定温度域に到達してから試験時間のカウントを開始することも可能です。また、航空機関連部品の規格であるMIL規格や電気・電子部品の環境試験方法のJIS規格に対応しています。
仕様 試験温度範囲：低温-70～0℃ 高温60～200℃
温度変動幅：±0.5℃
温度上昇時間(高温槽)：常温～200℃ 15分
温度下降時間(低温槽)：常温～-75℃ 45分
試験室寸法：390mm×390mm×460mm
試験室内許容試料質量：最大30kg(底面20kg以下、試料棚5kg/枚以下)
補助金 JKA備品
外観
GPC
開放利用 9,790円 / 1時間
導入年度 平成23年度
メーカー 東ソー株式会社
型番 本体：HLC-8121GPC／HT
溶解ろ過装置：DF-8020
概要 ポリエチレン（ＰＥ）、ポリプロピレン（ＰＰ）樹脂の分子量測定が可能です。
仕様 温調：(送液部)室温+10～50℃, (検出部)室温+10～180℃
検出部：ブライス型ダブルパス、ダブルフロー方式屈折計
オートサンプラー：最大16点（標準試料込み）
標準使用溶媒：オルトジクロロベンゼン
標準使用温度：140℃　
補助金 JKA備品
外観
粒度分布測定システム
開放利用 3,040円 / 1時間
導入年度 平成23年度
メーカー 日機装株式会社, 大塚電子株式会社
型番 MicrotracMT3300EXⅡ, ELS-Z
概要 レーザー回折・拡散方式及び動的光散乱方式で粒度測定，ゼータ電位の測定可能, 希薄溶液に加え、濃厚溶液も測定可能
仕様 (レーザー回折・散乱式)測定レンジ
0.02～2800μm(湿式)
0.2 ～2000μm(乾式)
(動的光散乱式)測定レンジ
粒径 0.6nm～7μm
ゼータ電位：-200～200mV
補助金 JKA備品
外観
耐電圧・絶縁抵抗試験器
開放利用 580円 / 1時間
導入年度 平成22年度
メーカー 菊水電子工業株式会社
型番 TOS9201
概要 　被試験体に交流や直流の高電圧を印加した時に流れる電流を計測し、被試験体の絶縁性を判断する試験及び、高電圧印加時における絶縁体の抵抗値を計測する試験を行います。
仕様 AC･DC耐電圧試験モード
　最大出力電圧：AC5kV DC6kV
　最大定格電流：AC100mA DC10mA
　電圧分解能：AC10V DC10V
絶縁抵抗試験モード
　定格測定電圧：25V～1000V
　分解能：1V
　抵抗計測定範囲：0.01MΩ～9.99GΩ
補助金 JKA備品
外観
パワーアナライザ
開放利用 580円 / 1時間
導入年度 平成22年度
メーカー 横河電機株式会社
型番 WT500
概要 　電気機器の有効電力、無効電力、皮相電力、力率、位相角等を測定します。
仕様 周波数帯域：直流及び交流0.5Hz～100kHz
電圧測定レンジ：15V(rms)～1kV(rms)
電流測定レンジ：0.5A(rms)～40A(rms)
電力基本確度：0.2%
補助金 JKA備品
外観
低抵抗率計
開放利用 590円 / 1時間
導入年度 平成22年度
メーカー 株式会社三菱アナリテック
型番 ロレスタGP MCP-T610
概要 10-3Ω～107Ω程度の導体から半導体を対象とし、4端子4探針方式による測定プローブを用い、定電流印加法にて被試験体の表面抵抗率、体積抵抗率を測定します。
仕様 測定項目：抵抗[Ω]、体積抵抗率[Ω･cm]、表面抵抗率 [Ω･cm]
測定方式：定電流印加方式の4端子4探針法
測定範囲：10-3Ω～107Ω程度
演算機能：JIS-K7194準拠の抵抗率補正
補助金 JKA備品
外観
高抵抗率計
開放利用 590円 / 1時間
導入年度 平成22年度
メーカー 株式会社三菱アナリテック
型番 ハイレスタUP MCP-HT450
概要 104Ω～1013Ω程度の半導体から絶縁体を対象とし、2重リング方式による測定プローブを用い、定電圧印加法にて被試験体の表面抵抗率、体積抵抗率を測定します。
仕様 測定項目：抵抗[Ω]、体積抵抗率[Ω･cm]、表面抵抗率 [Ω･cm]
測定方式：定電圧印加方式の二重リング法
測定範囲：104Ω～1013Ω程度
測定プローブ：JIS-K6911に準拠
補助金 JKA備品
外観
炭素・硫黄測定装置
開放利用 対象外
導入年度 平成22年度
メーカー 株式会社堀場製作所
型番 EMIA-320V2型
概要 　鉄鋼、非鉄金属、合金鋼、特殊金属、鋼石無機物などに含まれる炭素・硫黄を同時に分析する装置です。高周波誘導加熱炉方式でJISの分析規格をはじめ、ISOの分析規格にも適合しています。分析目的に応じた適切な温度コントロールにより、各種サンプルの高精度分析が可能です。
仕様 分析原理：酸素気流中高周波加熱燃焼-赤外線吸収法
分析範囲：炭素：0?6%(m/m)、硫黄：0?1%(m/m)
試料質量：標準1.0g
分析精度(再現性)
　炭素：σn-1≦0.0002%(m/m)またはCV≦1.0%
　硫黄：σn-1≦0.0002%(m/m)またはCV≦1.5%
　感度(最小読取)：0.000001%(m/m) (0.01 ppm)
補助金 JKA備品
外観
リーケージカレントテスタ
開放利用 対象外
導入年度 平成22年度
メーカー 菊水電子工業株式会社
型番 TOS3200
概要 　接触電流及び保護導体電流を測定する試験装置。接触電流測定は、被試験電気機器の可触部(筺体等)とアース線を含む電源ライン間に流れる接触電流を人体模擬抵抗を通して計測します。保護導体電流測定はアース線に流れる電流を測定します。
仕様 接触電流測定モード
医用電気器機器を除く一般電気機器向けの漏えい電流試験
IEC、UL、JIS、電気用品安全法等の規格要求に対応
補助金 JKA備品
外観
デジタル・マルチメータ
開放利用 対象外
導入年度 平成22年度
メーカー 岩通計測株式会社
型番 VOAC7523
概要 　高い確度及び高い桁表示で、交流・直流電圧、交流・直流電流、抵抗、周波数等を計測します。
仕様 電圧測定レンジ：DC 50mV～1kV / AC 500mV～750V
電流測定レンジ：DC 5mA～10A / AC 5mA～10A
抵抗測定レンジ：50Ω～500MΩ
測定桁表示：5.5桁
直流電圧測定確度：0.02%
補助金 JKA備品
外観
サイクル腐蝕試験機
開放利用 対象外
導入年度 平成22年度
メーカー 板橋理化工業株式会社
型番 BQ-I型
概要 本装置は塩水噴霧、乾燥、湿潤、外気導入を任意の順番・時間(分単位)でサイクルを組み合わせ試験し、塗料、金属、鋼材等の腐蝕促進を行う試験機です。JIS H8502：1999、JIS K5600-7-9：2000(サイクルD)、JASO M609-91、JASO M610-92、ASTM B117およびJIS Z 2371：2000等の試験が可能です。
仕様 槽内寸法：800mm×600mm×500mm
塩水噴霧：RT+10～50℃
湿潤：+50℃ 95％
熱風乾燥：RT+10℃～80℃
補助金 JKA備品
外観
ドラフトチャンバー
開放利用 対象外
導入年度 平成22年度
メーカー 株式会社島津理化
型番 PSD-150
概要 　本装置は化学分析における前処理等の実験によって排出される、有害ガス等の除去を行うための装置である。装置の腐食等から来る混入物を防ぐために装置全体を塩化ビニル製にしており、安定した実験を行うことが可能である。
仕様 外装および構造体素材：塩化ビニル製
内装素材：耐熱性塩化ビニル製(80℃以上)
使用環境：過塩素酸・ふっ化水素酸が使用可能
装置間口：1500mm
補助金 JKA備品
外観
電子ビーム表面加工【利用不可】
開放利用 1,370円 / 1時間
導入年度 平成20年度
メーカー 株式会社ソディック
型番 EB300 電子ビームPIKA面加工装置EBM
概要 本装置は、電子ビーム加工法により、真空中に微量に投入されたアルゴンガスをプラズマ化し、「パルス状の大面積で高出力な電子ビーム」を発生させ、金属の表面を溶解するエネルギーを使い、表面の凹凸は熱と表面張力により、照射毎に溶解、凝固を繰り返し平滑化することができます。平滑効果のある材料としては、チタン、バナジウム、熱間ダイス綱(SKD61)、SUS系工具綱(STAVAX,HPM38等)などである。
仕様 ワークテーブル：NC制御付き
テーブル移動範囲：300mm×200mm×150mm
ビーム直径：φ60mm(ワーク平面、標準ビーム条件時)
パルス幅：4μs以下
プロセス真空度：0.05Pa
ビームエネルギー：20J/cm2以下
補助金 JKA備品
外観
電解分析装置
開放利用 対象外
導入年度 平成20年度
メーカー 株式会社ヤナコ機器開発研究所
型番 AES-2D
概要 　測定対象溶液を一定の電流密度で電気分解する、電気重量法により定量分析を行う装置。銅合金中の銅の定量分析 に使用します。
仕様 様式：2連式
出力調整：ポテンショメータによる
直流出力電圧：20V
直流出力電流：5A
電圧計：デジタル表示、0.00V～19.99V、自動レンジ切換機構付
電流系：デジタル表示、0.000A～5.00A、自動レンジ切換機構付
電圧変動：±0.2V以下(電源変動に対して)
攪拌方式：マグネチックスターラー 100～1000rpm
※0.01Aの精度で電流制御が可能
※定電流装置を備え電流値の変化を最小に抑える事が可能
補助金 JKA備品
外観
原子吸光分光装置
開放利用 対象外
導入年度 平成18年度
メーカー Thermo Fisher Scientific株式会社
型番 SOLAAR M6
概要 　本装置は元素ごとに異なる光の吸収特性を利用して、酸等により溶液化したサンプルの元素の含有量を測定できる装置です。特に有害元素とされる水銀の検出には欠かすことのできない装置であり、RoHS等の有害物規制対応有害元素(Cd,Pb,Hg,Cr)の分析ができます。
仕様 測定方式：フレーム/ファーネス両方式
バックグラウンド補正(ファーネス測定時)： ゼーマン方式
ホロカソードランプ：Mg, Al, Si, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Mo, Cd, Sn, Sb, W, Hg, Pb, Bi
補助金 JKA備品
外観
蛍光X線元素分析装置
開放利用 対象外
導入年度 平成18年度
メーカー 株式会社堀場製作所
型番 X線分析顕微鏡 XGT-5000WRS
概要 　X線を吸収した物質から放射される蛍光X線を測定することにより元素の含有の有無・大小を測定する装置です。サンプルを非破壊で定性分析でき、有害元素の 高感度検出に特化したフィルターを備えています。RoHS等の有害物規制(Cd,Cr,Pb,Hg,Br)の測定に対応しています。
仕様 測定可能元素：Na～U
試料室サイズ：400mm×350mm×40mm
測定可能最小試料サイズ：φ1.2mm
補助金 JKA備品
外観
万能材料試験機
開放利用 対象外
導入年度 平成17年度
メーカー 株式会社島津製作所
型番 AG-100kNIS
概要 　ボールネジ駆動による高精度定速ひずみ制御の負荷方式によって、材料の機械的特性である引張・圧縮・曲げ強さなどを測定する試験機です。本体剛性，負荷速度および試験力計測の信頼性が非常に高いため、素材および製品の品質管理や新素材の研究開発に利用できます。
仕様 負荷容量：100kN
試験力校正：自動校正方式
クロスヘッド速度と容量試験力：全速度100kN
試験速度：0.0005～1000mm/min
リターン速度：1100mm/min
クロスヘッドとテーブル間距離：1250mm
有効試験幅：575mm
補助金 JKA備品
外観
ネットワークアナライザ
開放利用 340円 / 1時間
導入年度 平成17年度
メーカー AgilentTechnologies
型番 E5071B
概要 電子デバイスの高周波特性(伝送・反射・Sパラメータ等)の計測を行います。
回路解析装置内部の信号源によって測定する範囲の周波数掃引された信号が生成され、これを被測定回路に入力することでし、さまざまな入力周波数における回路の伝送特性や反射特性などの応答計測ができます。
仕様 ・測定チャンネル：2チャンネル
・周波数範囲：300kHz-8.5GHz
・ダイナミックレンジ：125dB(代表値)
・掃引速度：9.6μ秒／ポイント
補助金 JKA備品
外観
スペクトラムアナライザ
開放利用 420円 / 1時間
導入年度 平成17年度
メーカー Tektronix
型番 RSA3308A
概要 高周波信号のレベルと周波数の測定など、高周波の信号解析を行います。
一般的な掃引型スペクトラム・アナライザと異なり、信号を連続的にメモリ内に取り込んで、後から周波数領域や時間領域などの解析を行うことができます。
仕様 ・周波数範囲：DC-8GHz
・周波数マスクトリガ機能
・マルチドメイン解析機能
・デジタル復調機能
補助金 JKA備品
外観
赤外線ランプ加熱装置
開放利用 対象外
導入年度 平成16年度
メーカー アルバック理工株式会社
型番 QHC-P610
概要 　タングステンフィラメントを熱源とするランプから放射する赤外線を、放物面の反射面を用いて均一化し、加熱に用いる装置です。他の加熱方式では困難な急速加熱冷却、精密な温度制御、加熱環境の清浄化が可能なことに特徴があります。温度制御器、被加熱材を保持する石英製ホルダ、加熱雰囲気を保つための石英チューブ、雰囲気制御装置、冷却水循環装置等からなり、各種材料の熱処理等に利用できます。
仕様 加熱方式：赤外線ランプ加熱方式
最高加熱温度：1100℃
均熱加熱部寸法：φ40mm×L80mm
温度制御方式：PID制御方式
温度制御用センサ：熱電対
雰囲気加熱機能：大気中、真空中、アルゴンガス中
補助金 JKA備品
外観
試料埋込プレス
開放利用 対象外
導入年度 平成15年度
メーカー 丸本ストラトス株式会社
型番 試料埋込プレス ラボプレス－Ｉ(05056217)
概要 　金属の組織を観察するためには試料の観察面を平坦で金鏡な面に仕上げる作業が必要です。試料が小さい場合や形状が複雑などの場合においては、試料の金鏡面仕上げに至る研磨加工は極めて困難である。本機は金鏡面仕上げ工程を可能とするために、試料を樹脂に埋込み、円筒形状のモールド試料の作成に使用します。
仕様 埋込シリンダー
　直径25、40mmの2種類(2種類のモールドを作成可能)
　上記2種類のシリンダー交換容易(交換時間10分以内)
　2重埋込(上記2種類の径それぞれ2個同時成形)可能
加圧力：最大50KN以上
　上記2種類のシリンダー交換容易(交換時間10分以内)
　電磁油圧式ポンプ等による半自動加圧可能
加熱温度：180℃及び150℃
冷却機能：有り
補助金 JKA備品
外観
高速精密切断機
開放利用 対象外
導入年度 平成15年度
メーカー 平和テクニカ
型番 高速精密切断機ファインカット HS-45A Ⅱ型
概要 　被検体試料は大小様々であることが多く、金属の組織などを観察するためには切断して必要とする観察サンプル及び観察面を切り出す必要があります。大小、長短尺、複雑形状、硬・軟材と様々な金属材料をはじめとする試料の切断に対応でき、しかも観察面は熱影響が少なく、平坦な切断面が求められる、高速精密切断機です。
仕様 切込み送り：自動・手動両方可能
自動切込み：可能、変速可
自動戻り：有り
主軸回転速度：一定、3000rpm以上
バイス：回転 0～90°可能
つかみ幅：80mm以上
移動量
　X移動量(切込み方向)　　　200mm以上
　Y移動量(左右方向)　　　　 100mm以上
作業面積：600mm×500mm(幅×奥行)以上
作業面積：600mm×500mm(幅×奥行)以上
切断物の大きさ：丸棒で直径30mm,長さ600mm以上可能
切断刃及び径、板厚：砥石、ダイヤモンドカッター等、
　　　　　　　　　　最大直径230mm,板厚1mm以下可能
補助金 JKA備品
外観
自動摩擦溶接機
開放利用 対象外
導入年度 平成15年度
メーカー 日立設備エンジニアリング株式会社
型番 自動摩擦溶接機　SHH204-718～719型
概要 　摩擦を利用した接合方法は、接合部の歪み・変形が少なく二次加工が不要で、従来困難であった異種材料の接合、しかもクリーンな環境での接合加工を可能にする技術です。この自動摩擦溶接機は、新しい接合方法として注目されている摩擦撹拌接合、最近見直されつつある摩擦肉盛り接合、摩擦圧接という摩擦を利用した各接合機能を有し、信頼性の高い接合、機能性を有する応用製品開発等に対応します。
仕様 主要機能：摩擦撹拌接合、摩擦圧接、摩擦肉盛り接合
主軸回転数：500～4,000rpm
最大推力：30kN
本体テーブル寸法：600×400mm
接合試料厚さ：アルミ合金板突き合わせ接合厚さ 7mm
摩擦圧接試料径：直径10mm
前進角：0～10°可変
補助金 JKA備品
外観
混練性測定装置 ブラベンダー
開放利用 3,130円 / 1時間
導入年度 平成3年度
メーカー BRABENDER
型番 PLASTI-CORDER　PL-2000
概要 樹脂材料の混練や、樹脂添加剤と樹脂との複合化、押出成形条件の探索ができる装置
仕様 動力：6.5kW(8.8馬力)
回転数：最大120rpm
ミキサー(容量)：60cc
ミキサー(温度)：最大300℃
二軸押出機(温度)：最大400℃
補助金 JKA備品
外観
テーバー式摩擦試験器
開放利用 2,890円 / 1時間
ただし摩耗輪は、利用者持参
導入年度 平成3年度
メーカー テーバー
型番 5130型
概要 摩耗輪を使用し、試料の耐摩耗性を評価する装置
仕様 バキュームレベル：0～100%
試験荷重：125g、250g、500g、1kg
回転数：72rpm
補助金 JKA備品
外観